高低溫試驗(yàn)箱是測(cè)試芯片產(chǎn)品、電子產(chǎn)品和航空產(chǎn)品的常用儀器之一。對(duì)于每個(gè)客戶，我們的銷售人員在購(gòu)買時(shí)都會(huì)詢問(wèn)客戶測(cè)試樣品的體積。事實(shí)上，提出這個(gè)問(wèn)題的主要目的是清楚地了解推薦的設(shè)備是否能滿足要求。因?yàn)楦鶕?jù)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，樣品占試驗(yàn)箱容量的三分之一。為什么？讓小編仔細(xì)介紹一下原因！

　　原因一：如果樣品中樣品過(guò)多，氣體循環(huán)速度將加快氣流與樣品之間的熱交換。相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，高低溫試驗(yàn)箱內(nèi)試樣周圍的空氣速度不得超過(guò)1.7m/s，為避免試件及周圍氣氛與實(shí)際不符的傳熱，箱內(nèi)平均風(fēng)速為0.6~0.8m/s，小于1m/s，當(dāng)規(guī)定的空間和面積比達(dá)到上述要求時(shí)，流場(chǎng)的風(fēng)速可以增加(50~平均高風(fēng)速(100)%~1.7)m/s，符合規(guī)范要求。如果被測(cè)產(chǎn)品的體積或迎風(fēng)斷口面積在試驗(yàn)中無(wú)限期增加，實(shí)際試驗(yàn)中的風(fēng)流風(fēng)速會(huì)增加，測(cè)試結(jié)果的正確性會(huì)受到質(zhì)疑。

 

　　原因二：箱內(nèi)環(huán)境參數(shù)的精度指標(biāo)為空載狀態(tài)下的試驗(yàn)結(jié)果。如果將產(chǎn)品添加到箱內(nèi)，將不可避免地影響高低溫試驗(yàn)箱內(nèi)環(huán)境參數(shù)的均勻性。被測(cè)產(chǎn)品占用的空間越大，影響就越嚴(yán)重。試驗(yàn)結(jié)果表明，流場(chǎng)上的風(fēng)面背風(fēng)面之間的溫差可達(dá)3~8℃，嚴(yán)重時(shí)可達(dá)10℃以上。所以，為保證被測(cè)產(chǎn)品周圍環(huán)境參數(shù)的一致性，建議必須盡可能符合標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的要求。